Manufacturing testing

Omdat chipproductie geen feilloos proces is, is het nodig chips na productie te kunnen testen op correctheid. Dit soort testen wordt manufacturing testing genoemd. Merk op dat dit heel iets anders is dan wat je met testbenches doet tijdens het ontwerpen. Daarmee verifieer je of het ontwerp functioneel in orde is. Bij manufacturing testing is het doel na te gaan of er geen productiefouten zijn opgetreden, m.a.w. of het ontwerp in de chip terecht is gekomen zoals bedoeld/ontworpen. Tijdens het ontwerpen van een chip moet je de testbaarheid (voor manufacturing testing) meenemen. Dat staat bekend als DfT: Design for Test.

Het PDF hoofdstuk manufacturing testing uit mijn thesis geeft een introductie over foutmodellen, patroongeneratie (ATPG), scan chains, DFT-technieken, JTAG en BIST.

Een mooi overzicht wordt ook gegeven in een tweetal "design features" van EDN.com:

Laatste update van deze pagina: 12-03-2018